Microscopio electronico de barrido

2.- Microscopio Electrónico de Barrido ( MEB).

La emisión secundaria se utiliza en la construcción de la imagen en el MEB, el cual a diferencia de los MET, posee un haz móvil de electrones que “barre” o recorre el espécimen en áreas seleccionadas.
La microscopia electrónica de barrido, en sus diversas modalidades, surge en forma experimental entre los años 1930 y 1940, en Alemania. En 1935,Knoll propone un instrumento bastante similar a los actuales, destinado a estudiar fenómenos de emisión secundaria. En 1938, Von Ardenne diseña un nuevo tipo de microscopio, con el objeto de estudiar muestras relativamente gruesas. Este instrumento operaba con lentes electrostáticas y barrido electromagnético, pero carecía de dispositivos de amplificación y pantalla de observación. El haz deelectrones atravesaba la muestra e incidía directamente sobre una placa fotográfica que se desplazaba en sincronía con el haz, pero a mayor velocidad. Las imágenes en este instrumento sólo podían observarse una vez obtenida las placas fotográficas. Von Ardenne sugirió también la posibilidad de onservar la superficie de cuerpos opacos, recogiendo y amplificando los electrones secundarios emitidos porellas, para modular la intensidad del haz de un tubo de rayos catódicos.
En 1942, Zworokin, Hillier y Zinder diseñaron un microscopio con el cual se observaban directamente superficies de muestras metálicas, y publicaron las primeras micrografías electrónicas de barrido.
Estos estudios se descontinuaron durante la Segunda Guerra Mundial, pero resurgieron en 1948 en un programa bajo la dirección deC.W. Oatley en el Laboratorio de Ingeniería de la Universidad de Cambridge, donde se iniciaron una serie de proyectos que permitieron grandes avances. En 1952 McMullan diseña un microscopio con importantes adelantos. Utiliza una tensión de aceleración mayor, se reducen los efectos de contaminación y se introduce un nuevo tubo fotomultiplicador que mejora considerablemente la calidad de la imagen.La observación de la imagen se efectuaba en un tubo de rayos catódicos de larga persistencia. Este microscopio es modificado luego por Smith, quien en 1959 consigue micrografías de muy buena calidad. Como resultado de estas investigaciones, entre los años 1963 y 1965, surgen los primeros microscopios electrónicos de barrido comerciales, que alcanzaban unos 250 Å de resolución. Actualmente sedesarrollan a escala comercial microscopios que garantizan una resolución de 35-100 Å ( 3,5-10 nm ).

Descripción del Microscopio Electrónico de Barrido ( MEB ).

Un MEB moderno consta esencialmente de las siguientes partes :
• Una unidad óptica-electrónica, que genera el haz que se desplaza sobre la muestra.
• Un portamuestra, con distintos grados de movimientos.
• Una unidad dedetección de las señales que se originan en la muestra, seguida de un sistema de amplificación adecuado.
• Un sistema de visualización de las imágenes ( tubo de rayos catódicos ).
• Un sistema de vacío, un sistema de refrigeración y un sistema de suministro eléctrico, relativamente similares a los del MET.
• Un sistema de registro fotográfico, magnético o de video.
• Un sistemade procesamiento de la imagen con ayuda computacional ( optativo ).

Sistema de Vacío.

Si se desea obtener un haz uniforme de electrones, es necesario mantener la columna del microscopio a un alto vacío. Se denomina sistema de vacío al conjunto de dispositivos y procedimientos que se utilizan para este fin.
Un alto vacío corresponde a una baja presión, y la unidad que se utiliza es el mmHg oTorr. Se recomienda utilizar el Pascal (Pa), que es la fuerza de presión que ejerce un Newton sobre 1 m2 ( 1 atmósfera = 101325 Pa ).
La columna debe mantener un alto vacío, básicamente por cuatro razones:
1.- Para permitir el desplazamiento de electrones. Como la distancia entre el cañón de electrones y la pantalla es de aproximadamente un metro, se debe evacuar el gas de toda la…